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國際光纖微彎損耗測試標(biāo)準(zhǔn)2011年有望出臺(tái)欄目 :公司動(dòng)態(tài)
發(fā)布時(shí)間 : 2015-08-31
近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會(huì)”上，帝斯曼光纖材料研發(fā)總監(jiān)史蒂夫施密德向記者透露，帝斯曼在2009年提交了光纖微彎損耗測試方法和標(biāo)準(zhǔn)的立項(xiàng)工作，有望在2011年出臺(tái)初步的測試標(biāo)準(zhǔn)。 在近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會(huì)”上，帝斯
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近期舉辦的“國際光纖微彎損耗測試方法研討會(huì)”上
帝斯曼光纖材料研發(fā)總監(jiān)史蒂夫施密德向記者透露帝斯曼在2009年提交了光纖微彎損耗測試方法啝標(biāo)準(zhǔn)的立項(xiàng)工作有望在2011年出臺(tái)初步的測試標(biāo)準(zhǔn)
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